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1 X射线的产生和性质1

1.1 X射线的本质1

1.2 X射线的产生2

1.3 X射线谱5

1.4 X射线与物质的相互作用10

1.5 X射线的探测与防护17

2 几何晶体学基础19

2.1 晶体结构与空间点阵19

2.2 晶体对称的基本概念24

2.3 晶面与晶向指数30

2.4 晶体投影33

2.5 倒易点阵41

2.6 倒易点阵与正点阵的指数变换48

2.7 晶带49

3 X射线衍射的几何原理51

3.1 晶体点阵对X射线的衍射51

3.2 干涉函数与劳厄方程52

3.3 布拉格定律54

3.4 衍射矢量方程和厄瓦尔德图解57

4 X射线衍射线束的强度60

4.1 一个电子对X射线的散射60

4.2 一个原子对X射线的散射61

4.3 单胞对X射线的散射64

4.4 一个小晶体对X射线的散射71

4.5 粉末多晶体衍射的积分强度75

4.6 消光效应对衍射强度的影响81

5 劳厄法及其应用83

5.1 劳厄相的摄照83

5.2 劳厄法成相原理和衍射斑点分布规律的解释84

5.3 劳厄衍射花样指数化86

5.4 晶体取向的测定91

5.5 晶体的定向安装和对称性的测定93

5.6 滑移面和孪生面的测定94

6 多晶体衍射的照相方法96

6.1 粉末法成相原理96

6.2 德拜-谢乐法97

6.3 衍射花样的指数化102

6.4 辐射的选择109

6.5 聚焦照相法109

6.6 平面底片照相法114

7 X射线衍射仪116

7.1 衍射仪的基本组成116

7.2 测角仪的工作原理117

7.3 晶体单色器118

7.4 辐射探测器的工作原理119

7.5 计数测量中的主要电路121

7.6 计数测量方法和测量参数的选择123

7.7 衍射数据采集和数据处理的自动化126

7.8 衍射峰的积分强度127

7.9 衍射峰位的确定方法128

8 X射线物相分析131

8.1 定性相分析131

8.2 定量相分析139

9.1 原理148

9 点阵常数的精确测定148

9.2 德拜-谢乐法的系统误差149

9.3 衍射仪法的主要误差152

9.4 外推法消除系统误差154

9.5 柯亨(M.U．Cohen)最小二乘方法157

10 宏观内应力的测定161

10.1 基本原理161

10.2 测试技术164

10.3 应力测定中的几个相关问题166

11 晶格畸变及衍射线形分析169

11.1 衍射线的宽化效应169

11.2 Ka双线分离171

11.3 实测衍射峰与物理宽化效应的关系173

11.4 衍射峰物理宽化的测定175

11.5 晶格畸变量和晶块尺寸的测定179

12 织构的测定189

12.1 多晶体材料中的织构和衍射花样特征189

12.2 极图及其测绘方法191

12.3 反极图及其测绘方法198

12.4 织构的取向分布函数202

13.1 非晶态物质结构的主要特征208

13.2 非晶态结构的径向分布函数208

13 非晶态物质结构的X射线衍射分析208

13.3 实验要求和数据处理212

附录216

1.元素的物理性质216

2.K系标识谱线的波长、吸收限和激发电压218

3.元素的质量衰减系数220

4.原子散射因子222

5.洛伦兹-偏振因子225

6.德拜-瓦洛温度因子227

7.吸收因子228

8.立方晶系晶面(或晶向)间的夹角230

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